GOM Conference 2012 setzt einen weiteren Meilenstein in der optischen Messtechnik

Zum 10. Mal richtete GOM die Optical Metrology Conference im Hauptsitz in Braunschweig aus. Mehr als 600 Teilnehmerinnen und Teilnehmer aus 40 Ländern folgten der Einladung zur diesjährigen GOM Conference, die vom 18. bis 21. Juni 2012 stattfand.

Die Besucher konnten ein internationales Vortragsprogramm und Präsentationen zu den verschiedenen optischen Messverfahren in industriellen Prozessketten verfolgen und anschließend an branchenbezogenen Workshops und Live-Vorführungen teilnehmen. Zu den Referenten zählten in diesem Jahr beispielsweise hochrangige Vertreter von Airbus, BMW, Samsung, Volkswagen, Opel, Rolls Royce, Snecma, Eurocopter und Novo Nordisk sowie NASA.

Sowohl eine Reihe von Anwendervorträgen als auch die Gespräche mit Entscheidern aus der Industrie verstärken den Eindruck, dass die optische Messtechnik die taktile Technologie in Zukunft weiter ersetzen wird und Firmen künftig in die neue Technologie investieren. Eine strategische Implementierung optischer Messtechnik ist vermehrt bei OEMs als auch bei deren Zulieferern zu verzeichnen.

Auch gewinnt die Automatisierung immer mehr an Bedeutung in der Messtechnik. Auf diesem Gebiet stellte GOM die neusten Meilensteine in der Form- und Maßkontrolle vor. Mit individuellen Projektmesszellen und einem eigenen Experten-Team hat GOM in den letzten Jahren viele Erfahrungen im Bereich der automatisierten Messtechnik gewonnen. GOM hat die Anforderungen, die der Markt stellt, verstanden und bietet mit der ATOS ScanBox eine schlüsselfertige plug & play Lösung für die automatisierte Form- und Maßanalyse.

Ein weiterer Schwerpunkt lag in diesem Jahr auf den GOM Softwarelösungen. Die Softwareversionen GOM Inspect Professional und GOM Inspect beinhalten neue Inspektionswerkzeuge für Blade- und Blisk-Analysen, die vor allem für die Energieerzeugung- und Turbinenindustrie sowie für die Luft- und Raumfahrtindustrie von großer Bedeutung sind. Des Weiteren ermöglicht ein neu entwickeltes Trendmodul erstmals eine Auswertung von Mehrfachteilen und Kleinserien in der GOM Inspect Professional Software.

Auch in diesem Jahr war die GOM Conference wieder ein voller Erfolg. Ein besonderer Dank gilt an dieser Stelle allen Teilnehmern, GOM-Partnern und Vortragenden, die maßgeblich bei dem Event mitwirkten und die Konferenz mit Ihrem Beitrag zu einer großartigen Veranstaltung machten.

Wir freuen uns auf die nächste GOM Conference zu der wir wieder weltweit führende Köpfe namhafter Unternehmen und Einrichtungen sowie interessierte Führungskräfte begrüßen werden.

Weitere Informationen finden Sie auf https://www.gom-conference.com.