GOM Metrology

GOM Metrology

It looks like you are visiting our site from a(n) English speaking country. Would you like to go to our English site?

Accept

ARAMIS Adjustable

Modułowy system pomiarowy do analiz 2D i 3D

ARAMIS Adjustable

Rozbudowa wraz ze wzrostem wymagań

Dzięki możliwości rozszerzania o kolejne moduły system kamer ARAMIS Adjustable jest opłacalną inwestycją wprowadzającą do świata cyfrowej korelacja obrazu. System dostarcza precyzyjnych współrzędnych 2D i 3D do analizy części pod obciążeniem statycznym, jak i dynamicznym oraz innych zróżnicowanych zadań pomiarowych.

ARAMIS Adjustable

Możliwość dodawania modułów

Wykonujesz profesjonalne badania metrologiczne przy ograniczonym budżecie? Skonfiguruj system ARAMIS Adjustable na miarę swoich potrzeb. Jeśli Twoje wymogi wzrosną, będziesz mógł go rozbudować. Na przykład - czujnik 2D można z łatwością zmienić na 3D za pomocą dodatkowej kamery. Dodanie innych elementów takich jak jednostka sterująca GOM Testing Controller, podwójne lampy LED czy oprogramowanie jest również możliwe.

Zacznij od podstawowej wersji systemu, aby później móc go rozbudować.

System kamer Sensor 2D  rozbudowa do Sensor 3D 
Rejestrowanie obrazów
Sensor Driver ARAMIS 2D  rozbudowa do Sensor Driver ARAMIS
Przetwarzanie obrazu GOM Correlate
rozbudowa do GOM Correlate Pro
Szkolenia
eLearning
rozbudowa do GOM Training
Wsparcie
Wsparcie online rozbudowa do Wsparcie techniczne GOM

Możliwości rozbudowy systemu ARAMIS Adjustable

Możliwość dostosowania obszaru pomiarowego

System wyposażony w sensory 2D i 3D umożliwia analizę punktową oraz całej geometrii komponentów przy obciążeniach statycznych i dynamicznych. Sensory można wykorzystywać do zróżnicowanych zadań pomiarowych dzięki zmiennym przestrzeniom i odległościom pomiarowym. Ponadto podwójne lampy LED umożliwiają oświetlenie pod różnymi kątami nawet trudno dostępnych obszarów próbek. Dzięki temu system doskonale sprawdza się w instytutach badawczych i uniwersytetach skoncentrowanych na różnych obszarach zastosowań. 

ARAMIS Adjustable Base

Modułowe rozwiązanie systemowe dla maksymalnej elastyczności

Trzy warianty kamer o rozdzielczości do 24 megapikseli, różne rozwiązania do oświetlania z możliwością montażu bezpośrednio na skanerze oraz oferujące duże możliwości oprogramowanie do cyfrowej korelacji obrazu: Modułowa konstrukcja skanerów ARAMIS Adjustable umożliwia wybieranie spośród wielu różnych komponentów i idealne dostosowanie systemu do każdego zadania pomiarowego.

Sprzęt

Umożliwiająca wszechstronne zastosowanie konstrukcja z regulowanymi obiektywami i możliwością zmiany odległości kamer oraz odległości pomiarowej oferuje wiele różnych obszarów pomiarowych w obrębie określonej objętości pomiarowej.

Zastosowanie współpracującego sterownika Testing Controller umożliwia łatwe programowanie zdefiniowanych przez użytkownika procedur pomiarowych, rejestrowanie synchronicznie z obrazem maksymalnie ośmiu zewnętrznych sygnałów pomiarowych (np siły), przesyłanie analogowych i cyfrowych wartości pomiarowych oraz wiele opcji integracji systemu w środowisku pomiarowym. 

Oprogramowanie

Oprogramowanie GOM Correlate Pro umożliwia łatwe rejestrowanie, analizowanie oraz ocenę ruchów i deformacji. 

Oprogramowanie do testowania 3D obejmuje algorytmy do cyfrowej korelacji obrazu oraz funkcję pozycjonowania Live dla punktów, możliwości oceny wyników pomiaru – takich jak przemieszczenia 3D, deformacje 3D oraz odkształcenia powierzchni – funkcję pozycjonowania Live dla deformacji z przesyłaniem danych i znacznie więcej.

Oprzyrządowanie

Do optymalnego oświetlania mierzonych przedmiotów  – od bardzo małych do średnich rozmiarów – dostępne są elastycznie umieszczane podwójne lampy LED lub opracowany przez nas projektor światła. Z kolei panele LED umożliwiają oświetlanie całego obszaru dla większych mierzonych przedmiotów. 

Wszystkie trzy rozwiązania do oświetlania wykorzystują Blue Light Technology i zapewniają równomierne oświetlenie powierzchni. Jako uzupełnienie dostępna jest pozycjonowana optycznie sonda stykowa do stykowych pomiarów 3D. Jej elementy do pomiaru stykowego umożliwiają rejestrowanie nawet obszarów o utrudnionym dostępie optycznym, co ułatwia ustawianie zakresów testowych dla maszyn do testowania.

ZEISS ARAMIS Adjustable 24M

Measuring stress and strain at the highest level of detail

LEARN MORE

Dane techniczne systemu ARAMIS Adjustable 2D/3D

Dzięki dostępności trzech standardowych wariantów kamer o rozdzielczości w przedziale od 12 do 24 megapikseli i szybkości klatek od 25 do 2000 kl./s system ARAMIS Adjustable można wykorzystywać do zróżnicowanych zastosowań w zakresie badań, rozwoju i przemysłu. Jeżeli wymagane są prędkości rejestrowania powyżej 2000 kl./s, pomiary można wykonywać za pomocą kamer szybkoklatkowych.

  12M (2D/3D) 24M (3D)  SRX (3D)  High Speed (2D/3D) 
Rozdzielczość kamery  4096 x 3000 pikseli
5312 x 4448 pikseli  4096 x 3068 pikseli  maks. 2048 x 2048 pikseli 
Częstotliwość klatek (kl./s)  maks. 150 kl./s  100 kl./s (do 360 kl./s)  75 kl./s (do 480 kl./s)  np. 6400 kl./s (maks. 200000 kl./s)
np. 16000 kl./s (maks. 1000000 kl./s) 
Obszar pomiarowy (mm)  od 20 x 15 mm²
do 5000 x 4000 mm² 
od 20 x 18 mm²
do 5000 x 4500 mm² 
od 33 x 25 mm²
do 5000 x 4000 mm² 
od 10 x 10 mm²
do 5000 x 5000 mm² 

POBIERZ

Oprzyrządowanie

  • Sonda stykowa
  • Obiekt kalibracyjny
  • Markery punktów referencyjnych
  • Pakiet sprayów do badań odkształceń
  • Statyw
  • Walizka transportowa

Zastosowania

Pomiary odkształceń powierzchni próbek

Bezkontaktowe i niezależne od rodzaju materiału pomiary na zasadzie cyfrowej korelacji obrazu (CKO, ang. DIC).

Określanie właściwości materiałów

Zastosowanie w testach materiałowych takich jak Nakajima, tłoczności, rozciągania, gięcia, ścinania i testu Hole Expansion.

Pomiary efektów lokalnych

Szczegółowa mapa zachowania materiału. Przejście od jednorodnego odkształcenia elastycznego do plastycznego.

ZEISS INSPECT Correlate

To oprogramowanie, znane dotychczas pod nazwą GOM Correlate Pro, umożliwia łatwą analizę danych dotyczących ruchu, takich jak prędkości, zmiany kątów czy odkształcenia.

MORE

Technical White Paper

Digital Image Correlation and Strain Computation Basics

DOWNLOAD

DOWNLOAD

GOM Acceptance Test

Protokół GOM Acceptance Test (GAT) stanowi dowód jakości i wydajności większości sensorów ARAMIS. Procedura akceptacji opiera się na normach VDI 2634-1 i 2626 i jest nieodłączną częścią procesu dostawy. Klienci otrzymują certyfikat GAT dla zakupionego sensora, certyfikat DAkkS dla zastosowanego wzorca optycznego oraz szczegółowy opis procedury. 

GOM Acceptance Test

Skontaktuj się z nami

Chcesz dowiedzieć się więcej o naszych produktach i usługach? Z przyjemnością udzielimy dodatkowych informacji i przeprowadzimy demonstrację systemu - zdalnie lub na miejscu.

KONTAKT