ARAMIS Czujniki do precyzyjnych analiz ruchu i odkształceń

Pomiary odkształceń w czasie rzeczywistym

Rodzina produktów ARAMIS obejmuje czujniki wykorzystywane do dynamicznych pomiarów współrzędnych 3D, przemieszczeń 3D oraz odkształceń powierzchniowych 3D. Na podstawie triangulacji systemy te z wysoką precyzją obliczają współrzędne 3Ddla pomiarów całego obszaru i punktowych.

Optyczna analiza ruchu i odkształceń 3D

  • Idealne narzędzie w dziedzinie rozwoju produktów, badań materiałowych i testowania części
    Analiza dostarcza informacji na temat właściwości materiałów oraz zachowania części w warunkach obciążenia. Na ich podstawie określana jest wytrzymałość produktu i jego kształt oraz prowadzone są niezawodne symulacje numeryczne i ich weryfikacje.
  • Szybka i prosta procedura testowa
    Skanery ARAMIS wykorzystują do pomiaru statycznie lub dynamicznie obciążanych próbek i części bezkontaktową metodę opartą na zasadzie cyfrowej korelacji obrazu (COK), niezależnie od rodzaju badanego materiału. Pozwala to uniknąć długiego i kosztownego etapu przygotowywania badanego przedmiotu.
  • Precyzyjne pomiary małych i dużych przedmiotów
    System zapewnia stabilne narzędzia do analizy zarówno próbek o rozmiarach rzędu milimetrów, jak i kilkumetrowych zespołów konstrukcyjnych. Pomiary wykonywać można z submikrometryczną rozdzielczością, niezależnie od kształtu i temperatury próbki.

ARAMIS dostarcza precyzyjnych danych

Przemieszczenia 3D

Deformacje 3D

Prędkości i przyśpieszenia

Odkształcenia powierzchniowe

Cyfrowa korelacja obrazu (CKO)

Właściwości materiałowe na potrzeby symulacji

Inspekcja 6 stopni swobody (6DoF)

Współrzędne 3D

ARAMIS i testowanie

Przystosowany do warunków testowych

Wbudowana jednostka sterująca GOM Testing Controller nie tylko kieruje procesem akwizycji obrazu, ale też reguluje oświetlenie. Oprogramowanie zawiera ponadto interfejs użytkownika, w którym można wybrać gotowe sekwencje pomiarowe lub programować własne.

Wieloczujnikowy system

Dzięki połączeniu kilku czujników ARAMIS możliwe jest wykonywanie pomiarów z różnych perspektyw, rejestrujących różne obszary pomiarowe. Rejestracja i inspekcja wszystkich pomiarów odbywa się równocześnie, w tym samym układzie współrzędnych.

Duże objętości pomiarowe

ARAMIS umożliwia również dynamiczne pomiary obiektów złożonych lub o dużych rozmiarach, na przykład drgań pojedynczych łopatek turbin wiatrowych pod dużym obciążeniem.

Długofalowe pomiary na żywo

Testowanie części w trybie na żywo wykorzystywane jest na przykład w próbach wytrzymałościowych i zmęczeniowych, badaniach w tunelu aerodynamicznym czy do analizy drgań. Wyniki pomiarów można śledzić na bieżąco lub można je przetwarzać w czasie rzeczywistym w innym oprogramowaniu.

Interfejs ARAMIS Kiosk – zautomatyzowana kontrola

Interfejs ARAMIS Kiosk służy do zautomatyzowanego prowadzenia prób, np. rozciągania na podstawie różnych norm. Dzięki redukcji interakcji użytkownika, znormalizowane procedury testowe można przeprowadzać szybko, łatwo i w powtarzalny sposób dla serii pomiarowych z wieloma próbkami.

Walidacja symulacji numerycznych

Czujniki ARAMIS dostarczają informacji o właściwościach materiałowych części. Służą one jako parametry wstępne do obliczania symulacji oraz jako rozmiary referencyjne do dalszej optymalizacji i walidacji. Oprogramowanie GOM umożliwia import danych FE z formatów ABAQUS, LS-DYNA, ANSYS oraz ich bazowanie względem danych pomiarowych i przestrzeni.

Oprogramowanie ARAMIS Professional – cyfrowa korelacja obrazu


Oprogramowanie ARAMIS Professional oferuje pełny przepływ zadań od akwizycji danych pomiarowych, poprzez analizę, aż po raportowanie. Łączy ono zsynchronizowaną akwizycję obrazów i danych analogowych czujników ARAMIS z funkcjami inspekcji dostępnymi w oprogramowaniu GOM Correlate.

DOWIEDZ SIĘ WIĘCEJ

ARAMIS – najlepsze praktyki

Dowiedz się więcej o praktycznych zastosowaniach systemu pomiarowego ARAMIS.

DOWIEDZ SIĘ WIĘCEJ

Kolejne kroki

Więcej informacji można otrzymać
od lokalnego partnera GOM.

Kontakt

Experience a live demonstration given by our metrology experts specifically for your application

Digital Demo

Wprowadź dane i poproś o więcej informacji


CT Form PL

Inquiry