ARAMIS Skanery do precyzyjnej analizy ruchu i odkształceń

Pomiary odkształceń w czasie rzeczywistym

Rodzina produktów ARAMIS obejmuje czujniki do dynamicznych pomiarów współrzędnych, przemieszczeń i naprężeń powierzchniowych 3D. Na podstawie triangulacji systemy te obliczają z wysoką precyzją współrzędne 3D, które następnie wykorzystywane są w pomiarach pełnego pola lub punktowych.

Analiza optyczna ruchu i odkształceń 3D

  • Idealne narzędzie w dziedzinie rozwoju produktów, badań materiałowych i testowania części
    Analiza dostarcza informacji na temat właściwości materiałów oraz zachowania części w warunkach obciążenia. Na ich podstawie określana jest wytrzymałość produktu i jego kształt oraz prowadzone są niezawodne symulacje numeryczne i ich weryfikacje.
  • Szybka i prosta procedura testowa
    Skanery ARAMIS wykorzystują do pomiaru statycznie lub dynamicznie obciążanych próbek i części bezkontaktową metodę opartą na zasadzie cyfrowej korelacji obrazu (COK), niezależnie od rodzaju badanego materiału. Pozwala to uniknąć długiego i kosztownego etapu przygotowywania badanego przedmiotu.
  • Precyzyjne pomiary małych i dużych przedmiotów
    System zapewnia stabilne narzędzia do analizy zarówno próbek o rozmiarach rzędu milimetrów, jak i kilkumetrowych zespołów konstrukcyjnych. Pomiary wykonywać można z submikrometryczną rozdzielczością, niezależnie od kształtu i temperatury próbki.

ARAMIS dostarcza precyzyjnych danych

Przemieszczenia 3D

Odkształcenia 3D

Prędkości i przyśpieszenia

Naprężenia powierzchniowe

Cyfrowa korelacja obrazu (CKO)

Właściwości materiałów do symulacji

Ocena 6 stopni swobody (6DoF)

Współrzędne 3D

ARAMIS ułatwia prowadzenie testów

Przystosowany do warunków testowych

Wbudowany sterownik GOM Testing Controller nie tylko kieruje procesem rejestracji obrazu, ale reguluje też oświetlenie. Oprogramowanie zawiera ponadto interfejs użytkownika, w którym może on wybierać ustawione sekwencje pomiarowe lub programować własne.

Konfiguracje z kilkoma skanerami

Dzięki połączeniu kilku skanerów ARAMIS możliwe jest wykonywanie pomiarów z różnych perspektyw, rejestrujących różne obszary pomiarowe. Rejestracja i ocena wszystkich pomiarów odbywa się równocześnie, w tym samym układzie współrzędnych.

Duże przestrzenie pomiarowe

ARAMIS umożliwia również dynamiczne pomiary przedmiotów o skomplikowanym kształcie lub dużych rozmiarach, na przykład zachowania pojedynczych łopatek turbin wiatrowych pod obciążeniem.

Długofalowe pomiary on-line

Testowanie części w trybie on-line wykorzystywane jest na przykład w próbach wytrzymałościowych i zmęczeniowych, badaniach w tunelu aerodynamicznym czy do analizy drgań. Wyniki pomiarów można śledzić na bieżąco lub można je przetwarzać w czasie rzeczywistym w innym oprogramowaniu.

ARAMIS Kiosk Interface – kontrola automatyczna

ARAMIS Kiosk Interface to interfejs użytkownika służący do automatycznej oceny prób rozciągania na podstawie różnych norm. Dzięki zminimalizowaniu interakcji użytkownika, znormalizowane procedury testowe można przeprowadzać szybko, łatwo i w powtarzalny sposób dla serii pomiarowych z wieloma próbkami.

Weryfikacja symulacji numerycznych

Skanery ARAMIS dostarczają informacji o właściwościach materiałowych części. Służą one jako parametry wstępne do obliczania symulacji oraz jako rozmiary referencyjne do dalszej optymalizacji i weryfikacji. Oprogramowanie GOM umożliwia import danych FE z formatów ABAQUS, LS-DYNA, ANSYS oraz ich bazowanie względem danych pomiarowych i przestrzeni.

Oprogramowanie ARAMIS Professional – cyfrowa korelacja obrazu


Oprogramowanie ARAMIS Professional oferuje pełny przepływ zadań od pozyskiwania danych pomiarowych, poprzez analizę, aż po raportowanie. Łączy ono zsynchronizowaną rejestrację obrazów i danych analogowych przez skanery ARAMIS z funkcjami oceny dostępnymi w oprogramowaniu GOM Correlate.

CZYTAJ DALEJ

ARAMIS – najlepsze praktyki

Dowiedz się więcej o zastosowaniach systemu pomiarowego ARAMIS w praktyce.

DOWIEDZ SIĘ WIĘCEJ

Kolejne kroki

Więcej informacji można otrzymać
od lokalnego partnera GOM.

Kontakt

Przegląd produktów zawiera więcej
rozwiązań metrologicznych.

Systemy metrologiczne

Wprowadź dane i poproś o więcej informacji


CT Form PL

Inquiry