GOM Metrology

GOM Metrology

ZEISS INSPECT X-Ray allows the internal defect analysis of a plastic component

ZEISS INSPECT X-Ray

Obrazowanie i kompletna analiza wnętrza

ZEISS INSPECT X-Ray

GOM Volume Inspect to teraz ZEISS INSPECT X-Ray

Począwszy od wersji 2023, całość oferowanego przez nas oprogramowania dostępna jest teraz w jednym pakiecie i pod jedną nazwą: ZEISS INSPECT.

Więcej szczegółów na temat zmian w nazewnictwie znajdziesz tutaj.

Jedno się nie zmieni: Oprogramowanie ZEISS INSPECT X-Ray pozostaje optymalnym rozwiązaniem do analizy wnętrza części. Oprogramowanie obsługuje wszystkie powszechne formaty plików, niezależnie od wykorzystywanego systemu tomograficznego, umożliwiając szybkie wykrywanie wewnętrznych wad oraz skuteczne podejmowanie decyzji w zakresie dalszego postępowania z daną częścią. Możliwość jednoczesnego pomiaru wielu części z tej samej partii jeszcze bardziej usprawnia pracę. Oprogramowanie rozdziela je automatycznie.

Nowa nazwa, nowa witryna – wszystkie informacje znajdziesz teraz na zeiss.com

DOWIEDZ SIĘ WIĘCEJ

Czy znasz już ZEISS Quality Suite?

Zalety naszego cyfrowego ekosystemu: 

  • Zintegrowane przebiegi procesów – wszystko w jednym miejscu 
  • Usługi takie jak eLearning, pomoc online oraz najświeższe wiadomości ze świata metrologii 
  • Najnowsze aktualizacje 

DOWIEDZ SIĘ WIĘCEJ

Siatka abstrakcyjnej części z logo ZEISS Quality Suite