Ultimi sviluppi della metrologia ottica 3D mostrati alla GOM Conference

10/2015Con oltre 650 partecipanti provenienti da oltre 45 Paesi, la Conferenza GOM si è rivelata ancora una volta una piattaforma consolidata di incontro degli esperti di metrologia, controllo di qualità e sviluppo prodotti.

La conferenza internazionale si è svolta dal 21 al 24 settembre 2015 presso la sede principale GOM di Braunschweig (Germania). L'evento, tenutosi per la prima volta nel 1998 e giunto quest'anno alla dodicesima edizione, era incentrato su due argomenti principali: ricerca materiali / test sui componenti e misurazione con coordinate 3D.

Durante il programma di interventi è emerso chiaramente che la metrologia ottica è già una realtà di successo in numerosi settori e copre l'intera catena del processo produttivo, dalle prove sui materiali alla progettazione e la costruzione di stampi fino al controllo di qualità della produzione.

I relatori, tra cui i rappresentanti di adidas, ESA, Skoda, Faurecia, ThyssenKrupp Steel, Pratt & Whitney e Aviadvigatel, hanno mostrato sulla base delle proprie esperienze pratiche come l'implementazione dei sistemi di metrologia ottica permetta di ridurre i tempi di sviluppo, migliorare la sicurezza di processo e ottimizzare i processi produttivi.

Sono state presentente anche le nuove tendenze nel controllo di qualità automatizzato, così come i nuovi sviluppi nella tecnologia dei sensori e nei software per la ricerca dei materiali e dei test sui componenti.

Tra gli ulteriori argomenti principali trattati: gestione delle tolleranze, gestione della catena di distribuzione globale, analisi di profili alari e controllo del processo di produzione.

Un sentito ringraziamento va a tutti i partecipanti, ai partner e ai relatori che hanno contribuito al successo della GOM 3D Metrology Conference.

Vi aspettiamo alla prossima GOM 3D Metrology Conference dove incontreremo altri esperti e personalità di spicco di industrie leader a livello mondiale.

Per maggiori informazioni visitate il sito internet relativo alla GOM 3D Metrology Conference.