Internationaler Schüler- und Studentenwettbewerb zum Thema 3D-Scannen

11/2016Mit dem GOM Education Award hat GOM erstmals einen internationalen Wettbewerb für Schüler und Studenten zum Thema 3D-Scannen ausgeschrieben. Die Teilnehmer sollen mit dem ATOS 3D-Scanner einen Praktikumsversuch ausarbeiten und auf Englisch einreichen. Schüler und Studenten können ihre Beiträge bis zum 30. Juni 2017 abgeben.

Der Versuch sollte Interesse an 3D-Messtechnik wecken, die Technologie erklären und in der praktischen Anwendung zeigen. Eine Fachjury bewertet die Vorschläge. Der Gewinner oder die Gewinnerin erhält den mit 3.000 Euro dotierten GOM Education Award und die einmalige Gelegenheit, die Arbeit während der GOM 3D Metrology Conference 2017 Industrievertretern namhafter Unternehmen vorzustellen.

Mit dem GOM Education Award fördert GOM die praxisnahe Ausbildung im Bereich 3D-Messtechnik. Denn das vollflächige 3D-Scannen hat sich als Industriestandard im Reverse Engineering und der Qualitätssicherung etabliert. Es bildet außerdem die Grundlage für Industrie 4.0, da die vollständige 3D-Digitalisierung von Bauteilen erst die selbststeuernde Qualitätssicherung in Produktionsprozessen ermöglicht.

Weitere Informationen und Anmeldung unter https://www.gom.com/education-award.html