GOM Conference - Optical Metrology 2009

06/2009Vom 25.-28.05 fand die internationale GOM-Conference 2009 in unserer Niederlassung in Braunschweig statt. Wir möchten den über 400 Teilnehmern, sowie den renommierten Referenten danken, die durch Ihren Erfahrungsaustausch und die fundierten Vorträge dazu beigetragen haben, diese Konferenz international als High-Light im Bereich der optischen Messtechnik zu etablieren.

Die Optical Metrology ist eine internationale Konferenz zur Integration optischer Messtechnik in Industrie und Forschung. Sie ist eine Veranstaltung auf der Führungskräfte industrieller Branchen zusammentreffen und bietet eine Plattform zum Erfahrungsaustausch für Manager, Messtechniker sowie für Experten aus Technologie und Forschung.

Entscheider diskutierten über die Reduzierung von Entwicklungszeiten und die Prozesskettenoptimierung mittels Optischer 3D-Messtechnik. Anwender präsentieren ihre Erfahrungen mit den GOM Systemen und informierten über die praktische Einbindung der Systeme. Alle Messsysteme waren live im Einsatz, betreut von unserem GOM-Team, das für ausführliche Diskussionen zur Verfügung stand.

Seit 1998 organisiert die GOM regelmäßig Veranstaltungen, um über den Einsatz und den Benefit der optischen Messtechnik zu informieren. Durch den Austausch mit Experten und Entscheidern können frühzeitig neue Trends und Anforderungen erkannt, und die Entwicklung der optischen Messtechnik besser an die Bedürfnisse von Industrie und Forschung adaptiert werden.

Wir möchten den über 400 Teilnehmern, sowie den renommierten Referenten danken, die durch Ihren Erfahrungsaustausch und die fundierten Vorträge dazu beigetragen haben, diese Konferenz international als High-Light im Bereich der optischen Messtechnik zu etablieren.

Wir werden die öffentlichen Versionen der gehaltenen Vorträge allen Teilnehmern in Kürze zusenden. Wenn Sie leider nicht an der GOM Conference - Optical Metrology 2009 teilnehmen konnten, aber dennoch an den Vorträgen interessiert sind, senden Sie eine E-Mail an conference|at|gom.com.

Wir freuen uns darauf, alle interessierten Entscheider, Projektleiter und Messtechniker aus der Qualitätssicherung, Produktentwicklung, Deformation und Materialprüfung auf der nächsten internationalen GOM Conference im Herbst 2010 begrüßen zu dürfen.