Capture 3D Measurement Innovation Conference und 3D Expo in Kalifornien

10/2012Mit über 170 Kunden und Interessenten fand vom 21. bis 23. August 2012 die Capture 3D Measurement Innovation Conference und 3D Expo in Costa Mesa, Kalifornien, statt.

Die Besucher konnten auch in diesem Jahr wieder ein vielfältiges Vortragsprogramm verfolgen. Referenten waren unter anderem Vertreter von Boeing, NASA, Chrysler und Nissan sowie vielen weiteren Unternehmen. Auch GOM präsentierte die neusten Hardware Technologien, wie beispielweise die vollautomatisierte Messmaschine ATOS ScanBox, und stellte die seit Anfang September verfügbare GOM Softwarelösung V7.5 SR1 und die neuen Feature Highlights vor. Zusätzlich wurden die aktuellen GOM-Systeme, Kundenlösungen sowie Weiterentwicklungen präsentiert und diskutiert.

Unser Distributor Trilion nahm ebenfalls an der Konferenz teil, gab einen kleinen Einblick in die optische 3D Deformationswelt und zeigte auf, wie das Verständnis des Material- und Bauteilverhaltens mit Hilfe der GOM-Messsysteme verbessert werden kann.

Während der Pausen konnten die Teilnehmer Live-Messungen mit den GOM Systemen begutachten sowie das Gespräch mit unseren Mitarbeitern suchen, um Antworten auf kundenspezifische Fragestellungen und weitere detailliertere Informationen zu erhalten.

Wir danken an dieser Stelle allen Vortragenden für ihre aufschlussreichen und professionellen Beiträge, Capture 3D für diese schöne und erfolgreiche Konferenz und allen Besuchern für Ihre Teilnahme.

Bitte kontaktieren Sie unseren Distributor Capture 3D oder GOM, wenn Sie zusätzliche Informationen zu speziellen Anforderungen und/oder zur GOM Produktpalette wünschen.