Control 2010

4.-7. Mai 2010
Stuttgart, Deutschland
Halle 3, Stand 3330

Aussteller: GOM

Informieren Sie sich auf der Control 2010 über den Einsatz Optischer Messtechnik für die

  • Form- und Maßkontrolle
  • Materialanalyse
  • Bauteilprüfung

Wir würden uns freuen, Sie an unserem Stand 3330 in Halle 3 begrüßen zu können, um Ihnen die Vorteile der 3D Qualitätskontrolle und Inspektion in Produktentwicklung und Produktion vorzustellen.

Dieses Jahr präsentieren wir auf der Control:

  • Qualitätskontrolle für die Energie-Erzeugung
  • Materialprüfung für höhere Bauteilsicherheit
  • Form- und Maßanalyse an Kunststoffteilen
  • Prozessoptimierung für die Gießerei-Industrie
  • Bauteiltests und Prüfstände
  • Automatisierte Inspektions-Zelle
  • Qualitäts- und Prozessoptimierung in der Blechumform-Industrie
  • GOM Inspect Software


Die Optischen Messsysteme der GOM unterstützen weltweit Firmen bei der Verkürzung von Produkteinführungszeiten, bei der Verbesserung von Produkt- und Prozesssicherheit sowie bei der Reduzierung von Entwicklungs- und Produktionskosten.