GOM Conference 2010 setzt neue Maßstäbe in der optischen Messtechnik

Die 9. Internationale GOM Conference - Optical Metrology vom 20.-23. September im GOM-Hauptquartier war für über 500 Teilnehmer aus 40 Ländern das High-Light des Jahres im Bereich der Optischen 3D-Messtechnik.

Auf der Optical Metrology treffen Führungskräfte industrieller Branchen zusammen. Die Konferenz bietet eine internationale Plattform zum Erfahrungsaustausch für Manager, Messtechniker sowie für Experten aus Technologie und Forschung zur Integration optischer Messtechnik.

Mit der neuen Sensorgeneration ATOS Triple Scan, dem parametrischen Inspektions-Softwarepaket GOM Inspect Professional und dem Konzept für robotergestützte Inspektionszellen stellte die GOM die neuesten Meilensteine in der Form- und Maßkontrolle vor.

Im Bereich der Deformationsmessung zur Material- und Bauteilprüfung sowie 3D-Bewegungsanalyse lag der Schwerpunkt in diesem Jahr auf dem Einsatz optische Messtechnik in industriellen Prozessketten und der Einbindung in Finite Elemente Analysen und Simulation.

Wir danken allen Teilnehmern und Vortragenden für Ihre informativen Beiträge und den anregenden Erfahrungsaustausch über den Einsatz der Optischen Messtechnik zur Reduzierung von Entwicklungszeiten, zur Verbesserung der Prozesssicherheit und Optimierung von Produktionsabläufen.

Wir freuen uns darauf, interessierte Führungskräfte, Projektleiter und Messtechniker aus Qualitätskontrolle, Produktentwicklung, Materialprüfung und Bauteiltests auf der nächsten GOM Conference im Frühjahr 2012 begrüßen zu dürfen.

Weitere Informationen finden Sie auf der Veranstaltungs-Website unter https://www.gom-conference.com.