Competizione internazionale sulla scansione 3D per gli studenti

11/2016Per la prima volta in assoluto, GOM organizza il GOM Education Award, una competizione internazionale sulla scansione 3D per gli studenti. I partecipanti dovranno preparare un esperimento di laboratorio utilizzando lo scanner 3D ATOS e presentare i risultati in inglese. Il termine per la presentazione dei risultati è fissato al 30 giugno 2017.

L’esperimento deve suscitare l’interesse nella metrologia 3D, spiegare la tecnologia e comprendere un esempio di applicazione. Gli esperimenti pervenuti verranno valutati da una giuria di esperti. Il vincitore o il team vincitore riceverà il premio GOM Education Award e una somma pari a 3000 €. Inoltre, il vincitore avrà l’opportunità esclusiva di presentare l’esperimento di laboratorio durante la GOM 3D Metrology Conference 2017 davanti a rappresentanti di società leader nel settore.

Con il premio GOM Education Award, GOM intende sostenere l’insegnamento orientato alla pratica nel campo della metrologia 3D. La scansione superficiale 3D è diventata uno standard industriale affermato, soprattutto nel reverse engineering e nel controllo qualità. E inoltre il pilastro fondante dell’industria 4.0, dato che la digitalizzazione 3D completa dei componenti rappresenta uno dei requisiti per il controllo qualità automatizzato durante i processi di produzione.

Per ricevere informazioni dettagliate e registrarsi: www.gom.com/education-award.html