TRITOP - 光学三维坐标测量系统

便携式 TRITOP 摄影测量系统可以快速准确地测量物体的三维坐标。相对传统接触式三维坐标测量仪而言,现在可以用 TRITOP 系统更轻松地展开测量工作。不需要任何复杂、沉重和精密维护的硬件,让测量仪轻松地趋近物体就行!

像接触式坐标测量仪一样,TRITOP 能记录任何特征空间的坐标及其方向:

  • 曲面点和截面
  • 基元
  • 孔、冲孔和边
  • 直径、长度、角度 ......

确定三维坐标以后,测量系统将会把测量结果转换到部件坐标系统中:

  • RPS
  • 量具对齐
  • 最佳拟合 ......

用于不同任务的测量数据和对齐数据:

  • CAD 比较
  • 验证形状和位置公差
  • 验证各种样图、文档或表格的规格
  • 首检

把实际测量数据与 CAD 数据( IGES、VDA、STEP、Catia、ProE、UG ……)进行比较,生成用户熟悉的格式的测试报告:

  • 假色图示
  • 标注显示个别偏差点
  • 截面、角度和距离
  • 直径和平面度
  • 表格和列表

应用范围

  • 板金件和车身的检测(如在试生产、工艺优化、工装验证、启动批量生产或者随机取样过程中)
  • 大型物体的质量控制(如飞机、船舶、风力涡轮等)
  • 塑件的检验(如初样检验)
  • 夹具的检验和记录
  • 模型和原型的测量(如汽车内饰和外观设计)
  • 管路和电缆的三维形状的验证
  • 二维板金坯件的切边测量
  • 汽车和气候箱测试的变形分析
  • 参考点标区的测量

静态变形分析

TRITOP 是一套便携、易用的光学测量系统,能精确定义准静态条件下物点的三维坐标,并由此计算出各种物体和组件的三维位移及形变。

无需在物体上或物体周围安装测量头、布置电缆,从而不会与物体相互干扰,这一特点使非接触式 TRITOP 迅速取代了传统的位移传感器或 LVDT,用以捕捉位移和变形。

利用 TRITOP 测量系统,可以生成以下各类测量点参数:

  • 三维坐标
  • 三维位移
  • 变形
  • 弯曲、扭转、挠度
  • 旋转角
  • 六个自由度
  • 相对位移(点 - 点、点 - 线、点 - 面)

这些结果可以用图表形式显示,或直接显示在 CAD 数据上或叠加显示于记录的相机图像上,从而提供直观易懂的结果报告。

应用范围

  • 气候环境试验箱
  • 环境模拟
  • 滥用试验
  • 刚度测试
  • 间隙变形
  • 平整度测试
  • 仿真结果的验证和优化
  • 零部件的变形及其测试
  • 相对运动
  • 整体应变
  • 负载测试和老化试验(力与温度)

TRITOP 技术优点

  • 整套三维测量仪的组件极少(两个仪器箱共重 23 公斤)
  • 测量过程中无须接触被测物体
  • 对于大型物体也能确保高精度测量
  • 无磨损,也不会降低精度
  • 易于操作
  • 不受环境条件影响(气候环境试验箱、露天等)

应用提示

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