ATOS Compact Scan – 便携式三维扫描仪

ATOS Compact Scan是GOM提供的便携式三维扫描仪,用于进行全场测量和检测。这种轻便紧凑的整体解决方案开辟了全新的应用领域,为用户提供各种三维扫描及零部件、工模具和系统分析的可能性。即使在狭窄的空间或室内空间里,ATOS系列的紧凑型解决方案依然可以快速、精确地测量表面几何形状。

现场应用灵活方便

在生产进行过程中,必须对工模具、系统和部件等进行检测,以尽快进行修正。GOM为此推出了可直接在制造过程中使用的便携式测量系统ATOS Compact Scan。

ATOS测量头经实践证明灵活且精准。ATOS系列的便携式解决方案可直接应用在生产线上或在测量对象处,无需将零部件从工艺流程中取出并运输到计量室。通过这种方式,以前在最终产品上才能发现的错误,如今在形成时就能立即识别,同时也避免费时费力查找错误源。

可缩放的测量范围

与其他测量方法相比,ATOS Compact Scan的技术适用于所有测量任务和各种尺寸大小。无论是极强的细节分辨率、极高的精度还是快速扫描较大测量区域:利用这款三维扫描仪可缩放测量范围的特点,便于根据具体测量任务进行相应调整。通过合适的测量头,就可达成对精度、细节分辨率和速度的要求。

为了使用最佳工作流程测量长达几米的大型物体,ATOS Compact Scan可以快捷方便地与GOM的光学三维坐标测量设备TRITOP的数字摄影测量结合使用。

扫描及探针测量

对深凹、钻孔或光学测量不易接近的区域进行扫描时,所有常规设备都有这样或那样的其自身局限。而ATOS Compact Scan光学跟踪接触式探针,使高分辨率扫描与手动无线测量有机结合。使用ATOS Compact Scan,可在最短时间内对所有组件进行扫描和分析。

GOM接触式探针

利用 GOM接触式探针,将ATOS全场型面测量与探触式单个测量点三维测量结合起来,由此能够选择性地测量光学测量不易接近的区域,实现规则几何形状测量,并将它们与CAD数据进行直接比较。

ATOS技术

自1995年以来,GOM不断对ATOS测量头技术技术进行开发和优化。GOM的ATOS系统具有成熟的测量技术,已经成为几乎所有行业首选的测量系统。ATOS系统除了创新的硬件外,还集成了适于所有扫描和检测任务的高性能应用软件。

蓝光技术

GOM投影技术使用细条蓝光,在图像采集过程中,可有效过滤周围环境光干扰。其光源能量十足,即便是非配合表面,也可缩短其测量时间。

实时追踪

在线测量可根据CAD对组件进行选择性对齐和定位。比如在装配过程中进行在线定位,组件可以在标称位置对齐。

GOM适配器

GOM适配器为实时测量提供扩展功能,如组件定位或测量常规几何元素和边缘。

自行监控系统

ATOS Compact Scan属于能自行监控的测量系统。测量头在工作过程中能识别环境条件的变化,并可进行相应补偿。

摄影测量

无论物体的尺寸和复杂程度如何,为了获得高度的全局精度和工艺稳定性,可通过摄影测量对ATOS Compact Scan进行扩展。

参数化检测

ATOS Professional分析软件为零部件的全面分析提供了所有必需的工具。利用参数化检测,可对所有操作和评估步骤进行完全跟踪、溯源,掌握它们之间的关联性,由此便于随时修改和调整。

GOM 计量系统 ATOS Capsule 参数化检测

应用提示

建议了解更多有关 ATOS Compact Scan 的实际应用,查看所有 ATOS 应用提示