ESPI is een hooggevoelig meetsysteem voor het opmeten van zeer kleine vervormingen.

Het op interferrometrie gebaseerde meetprincipe van ESPI is zeer geschikt voor het meten van de kleinste 3D verplaatsingen en oppervlaktespanningen vanaf ongeveer 10 nanometer of 1µm per meter.
De hoge meetresolutie in het opmeten van vervormingen en spanning maakt ESPI geschikt voor:

• Materiaalbeproeving
• Sterkteanalyse
• Verbetering van constructies
• Onderzoek naar lineair en niet lineair gedrag
• Analyse naar kruip en veroudering
• Controle van eindige elementen simulatie
• Karakteriseren van homogene materialen

Belangrijke factoren in het ontwikkelingsproces zijn de verbetering van componenten, het gebruik van nieuwe materialen en de verbetering van computersimulaties. In al deze gebieden is een betere kennis van de materiaaleigenschappen cruciaal. ESPI ondersteunt deze processen met eenvoudig te interpreteren resultaten komende van complexe vervormingprocedures.