GOM hat auf der Control 2008 in Stuttgart vom 22.-25. April ausgestellt. Die Control ist die Fachmesse für Qualitätssicherung. In Halle 3, Stand 3330 zeigten wir unsere optischen Messsystemlösungen:

• flächenhafter Soll-/Ist-Vergleich in Kombination mit einem optisch geführten Taster zur Erreichbarkeit auch schwer zugängiger Oberflächen
• automatisierte Qualitätssicherung, zum Beispiel vollständige Automatisierung des Messprozesses von der Sensorpositionierung bis zur Erzeugung von Messberichten zur serienbegleitenden Analyse von Komponenten und Zusammenbauten
• schnelles und einfaches 3D-Scannen für Reverse Engineering und Rapid Prototyping
• ATOS Inspection Software mit allen Funktionalitäten von der Bearbeitung der 3D-Messdaten, über den CAD-Daten-Import bis zum Vergleich, der Analyse und Messberichten
• dynamische Deformationsmessung mit messtechnischen Lösungen zum Verständnis des dynamischen Verhaltens von Bauteilen und der Analyse von Strukturschwingungen
• Material- und Komponententests mit optischer Messtechnik zur Bestimmung von Materialkennwerten und zur Analyse des Verformungsverhaltens von Komponenten im Einsatz

Wir danken allen Besuchern für ihr Interesse.